ВЛИЯНИЕ ПОДЛОЖКИ ПРИ ИЗМЕРЕНИИ МЕХАНИЧЕСКИХ СВОЙСТВ ТОНКИХ ПЛЕНОК МИКРОСФЕРИЧЕСКИМ ИНДЕНТОРОМ

Authors: С.А. Вотяков, С.И. Вотякова, Г.Х. Султанова

Publication: Nanoindustry Russia

Published: Jul 27, 2026

Source: Crossref

Back to Search View Original Cite This Article

Abstract

<jats:p>Методами индентирования и МКЭ-моделирования исследовано влияние стальной подложки на свойства никелевых пленок толщиной 0,1–9,2 мкм при вдавливании микросферического индентора радиусом 2,5 мкм. Параметр η не постоянен и снижается с толщиной пленки.</jats:p>

Keywords

толщиной мкм Методами индентирования МКЭмоделирования

ВЛИЯНИЕ ПОДЛОЖКИ ПРИ ИЗМЕРЕНИИ МЕХАНИЧЕСКИХ СВОЙСТВ ТОНКИХ ПЛЕНОК МИКРОСФЕРИЧЕСКИМ ИНДЕНТОРОМ

Abstract

Keywords

Related Articles

The specificity of the image-sense in translating film titles (based on the English and Korean languages)

Закономерности формирования, структура и функциональные свойства Ni/Ce1-xAlxOy-катализаторов риформинга: влияние состава и метода синтеза

Влияние неупорядоченности на статистику распределения молекулярных кристаллов органических и металлоорганических соединений по пространственным группам

ВЛИЯНИЕ ТЕРМОМЕХАНИЧЕСКОГО НАГРУЖЕНИЯ СЖАТИЕМ НА ХАРАКТЕРИСТИКИ ЖАРОПРОЧНОСТИ МОНОКРИСТАЛЛИЧЕСКОГО ЖАРОПРОЧНОГО НИКЕЛЕВОГО СПЛАВА